(13−4−3) リードレス部品とリード部品の熱疲労
チップ部品
Suhling
チップ抵抗、PWB:ENIG
ΔTが大きくなるとSn−37Pbが勝る。
固溶強化の効果。
Han
チップ抵抗(2512)
はんだ:Sn37Pb、SAC396
パッド・サイズ:1.0と1.6mm
−50℃〜125℃、1サイクル1時間、各温度保持時間15分
(参考データ)
Grossmann
LCCC(積層チップキャパシタ)
2種類の典型的破壊モード、混合モードもある。
通常はフィレットを約45°に経由するモード。
亀裂成長領域ではデンドライト組織は破壊されている。
フィレット形状の違い
Pfahl 2012
チップ抵抗
低AgSACは高AgSACより温度サイクル特性が悪い。
LCCC(リードレス・セラミック・チップ・キャリア)
Osterman
母体が硬いリードレス部品の場合
LCCC(リードレス・セラミック・チップ・キャリア)
温度範囲はすべて100℃(=ΔT)
ΔTが75℃から120℃変化ではSAC305、SN100Cに比べSnPb系が影響小さい。
温度サイクルはSnPbAgが悪く、SnPbとSN100Cが近く、SAC305が一番良い。
加速係数モデル式
*
Pb−5Sn N−L
SAC305 Pan
Osterman
SAC387、リードレス・セラミック・チップ・キャリア
4:
75〜−25の誤り
最高温度125℃ではSnPbが良い。
LGA(ランド格子アレー)
Intel プレゼン Vasudevan 2007
温度サイクル特性はSAC405が良い。
QFP
Aoki
QFP
Wulfert
QFP
各種パッケージ
Smetana
20−80℃(低歪)ではSACが良いが、0−100℃(高歪)ではSnPbが良い。
2512:抵抗、5x7:セラミック水晶振動子
BGAではSACが良い。温和な温度サイクルではSACとSnPbは大差ない。(QFN64と5x7水晶振動子を除く)
0〜100℃ではSnPbが勝る。20〜100℃ではSACが勝る。
0〜100℃ではSnPbが勝る。20〜100℃ではSACが勝る。
森
DIP
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