(13−4−3) リードレス部品とリード部品の熱疲労


 チップ部品

Suhling
  チップ抵抗、PWB:ENIG


  ΔTが大きくなるとSn−37Pbが勝る。



  固溶強化の効果。






Han
 チップ抵抗(2512)
 はんだ:Sn37Pb、SAC396
 パッド・サイズ:1.0と1.6mm
 −50℃〜125℃、1サイクル1時間、各温度保持時間15分



 (参考データ)



Grossmann
 LCCC(積層チップキャパシタ)





  2種類の典型的破壊モード、混合モードもある。
  通常はフィレットを約45°に経由するモード。

  亀裂成長領域ではデンドライト組織は破壊されている。









  フィレット形状の違い

Pfahl 2012 チップ抵抗
 低AgSACは高AgSACより温度サイクル特性が悪い。



 LCCC(リードレス・セラミック・チップ・キャリア)

Osterman
  母体が硬いリードレス部品の場合

 LCCC(リードレス・セラミック・チップ・キャリア)
 温度範囲はすべて100℃(=ΔT)










  ΔTが75℃から120℃変化ではSAC305、SN100Cに比べSnPb系が影響小さい。
  温度サイクルはSnPbAgが悪く、SnPbとSN100Cが近く、SAC305が一番良い。

  加速係数モデル式


  Pb−5Sn N−L
     
  SAC305 Pan
     

Osterman
 SAC387、リードレス・セラミック・チップ・キャリア

4:75〜−25の誤り


 最高温度125℃ではSnPbが良い。





LGA(ランド格子アレー)

Intel プレゼン Vasudevan 2007

  温度サイクル特性はSAC405が良い。


 QFP

Aoki



  QFP



          


Wulfert QFP




 各種パッケージ

Smetana
  20−80℃(低歪)ではSACが良いが、0−100℃(高歪)ではSnPbが良い。


 2512:抵抗、5x7:セラミック水晶振動子
 BGAではSACが良い。温和な温度サイクルではSACとSnPbは大差ない。(QFN64と5x7水晶振動子を除く)

 0〜100℃ではSnPbが勝る。20〜100℃ではSACが勝る。

0〜100℃ではSnPbが勝る。20〜100℃ではSACが勝る。




 DIP



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