(7−2−5) NESAC+Bi、Sb
(A) Biの影響 →
SACの低融点化
Zhao
The growth kinetics of interfacial IMC layers versus the aging time at
two temperatures: (a) 140 °C and (b) 180 °C. The solid squares,
circles and triangle represent the relative thickness of total interfacial
layers in Sn-3Ag-0.5Cu/Cu, Sn-3Ag-0.5Cu-1Bi/Cu, and Sn-3Ag-0.5Cu-3Bi/Cu,
respectively. The hollow ones in the bottom of (b) represent the thickness
of Cu3Sn layer.
The microstructure evolution of Sn-3Ag-0.5Cu/Cu and Sn-3Ag-0.5Cu-3Bi/Cu
joint samples during aging process: (a) 0Bi, as soldered; (b) 3Bi, as soldered;
(c) 0Bi, aged at 150 °C for 1000 h; (d) 3Bi, aged at 150 °C
for 1000 h
Shear fracture morphology of the couples aged at 140 °C: (a) 360 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu/Cu; (b) 600 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu/Cu; (c) 360 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu3Bi/Cu; (d) 600 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu3Bi/Cu
SAC+1Bi Rizvi香港市大 150℃エージング
Aisha
Cuと置換Ag
Sn−2.5Ag−0.5Cu−1.0BiとSn−2Ag−0.75Cu−3.0Bi
(B)
Sbの影響
欧州IDEALSがSn-3.8Ag-0.7Cu-0.5Sbをウェーヴの推奨はんだとし、0.5%までのSb添加はウェーヴで高温信頼性を向上するという。
AIMにはSn−2.5Ag−0.8Cu−0.5Sb(CASTIN)があり、欧米では検討されている。
ただし
EFSOTのIMSでは毒性を問題とする。
Seelig
Zhao
SAC101(1.0Ag−0.1Cu−0.02Ni−xIn)
SACX(0.3Ag−0.7Cu−0.1Bi)
CASTIN(2.5Ag−0.8Cu−0.5Sb)
LF35(1.2Ag−0.5Cu)
引用(クックソンと千住)
高速せん断 0.45m/s
パッド:電解Ni/0.1μmAuまたはOSP
落下JESD22−B111
Sa、Sb:供給者違い、NiAu
Ma 広島大
Sn−2Ag−0.8Cu−0.6Sb
Sn−Ag−Cu−Sb
SbはAg3(Sn,Sb)となり、若干Cu6Sn5に固溶。
Hsu
Ni(P)/Au Au=0.025、1μm
Meilunas
Sn−3.5Ag、SAC387、Sn−2.5Ag−0.8Cu−0.5Sb
0−100℃、