(7−2−5) NESAC+Bi、Sb

(A) Biの影響 →SACの低融点化

Zhao

The growth kinetics of interfacial IMC layers versus the aging time at two temperatures: (a) 140 °C and (b) 180 °C. The solid squares, circles and triangle represent the relative thickness of total interfacial layers in Sn-3Ag-0.5Cu/Cu, Sn-3Ag-0.5Cu-1Bi/Cu, and Sn-3Ag-0.5Cu-3Bi/Cu, respectively. The hollow ones in the bottom of (b) represent the thickness of Cu3Sn layer.

The microstructure evolution of Sn-3Ag-0.5Cu/Cu and Sn-3Ag-0.5Cu-3Bi/Cu joint samples during aging process: (a) 0Bi, as soldered; (b) 3Bi, as soldered; (c) 0Bi, aged at 150 °C for 1000 h; (d) 3Bi, aged at 150 °C for 1000 h

Shear fracture morphology of the couples aged at 140 °C: (a) 360 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu/Cu; (b) 600 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu/Cu; (c) 360 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu3Bi/Cu; (d) 600 h, aged at 140 °C, Sn3Ag0.5Cu3Bi/Cu


  SAC+1Bi Rizvi香港市大 150℃エージング







Aisha
 Cuと置換Ag
 Sn−2.5Ag−0.5Cu−1.0BiとSn−2Ag−0.75Cu−3.0Bi





(B) Sbの影響 

 欧州IDEALSがSn-3.8Ag-0.7Cu-0.5Sbをウェーヴの推奨はんだとし、0.5%までのSb添加はウェーヴで高温信頼性を向上するという。
 AIMにはSn−2.5Ag−0.8Cu−0.5Sb(CASTIN)があり、欧米では検討されている。
 ただしEFSOTのIMSでは毒性を問題とする。

 Seelig



Zhao
 SAC101(1.0Ag−0.1Cu−0.02Ni−xIn)
 SACX(0.3Ag−0.7Cu−0.1Bi)
 CASTIN(2.5Ag−0.8Cu−0.5Sb)
 LF35(1.2Ag−0.5Cu)

 引用(クックソンと千住)

 高速せん断 0.45m/s
 パッド:電解Ni/0.1μmAuまたはOSP
 落下JESD22−B111





 Sa、Sb:供給者違い、NiAu























Ma 広島大  
 Sn−2Ag−0.8Cu−0.6Sb





Sn−Ag−Cu−Sb
SbはAg3(Sn,Sb)となり、若干Cu6Sn5に固溶。





Hsu
 Ni(P)/Au Au=0.025、1μm








Meilunas
 Sn−3.5Ag、SAC387、Sn−2.5Ag−0.8Cu−0.5Sb
 0−100℃、





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