(5−3) その他の2元系
(5−3−1) Sn−Au系
Sn−Au系でSn−38Pb代替としては融点217℃の
Sn−10Auが考えられるが、δ(SnAu)、ε(Sn2Au)、
η(Sn4Au)などが存在し得、巨大な初晶IMCが生成するのでこの抑制が必要である。
Ni添加などが効果あると思われる。Ni添加で(Au,Ni)Sn4等が
形成されると思われる。
ただし価格的に不利なので、特別の利点がないと利用されないだろう。
(5−3−2) Sn−Al
Sn-Al Choi
Sn−0.6Al 228℃
Alam
北大
Li
Al添加でIMC成長速度が遅くなる。
はんだバルクと界面付近にはAl−Cu IMCが形成される。SnAg、SACでははんだバルクにAg−Al
IMCが存在。
(5−3−3) Sn−Mg
Sn−Mg
濃い色の析出相はMg2Sn
(5−3−4) Sn−Ni
共晶はSn−0.16Niで231℃という。
Belyakov
Typical optical micrographs of CP as-cast (A): Sn-0.08Ni, (B) Sn-0.16Ni, (C): Sn-0.37Ni.
Representative NiSn4 (A, B) and Ni3Sn4 (D, E) crystals solidified in CP Sn-0.37Ni at 0.5 K/s followed by
selective etching of the Sn;
(C, F) schematic of the typical crystal habits.
SE-SEM images of unidirectionally solidified Sn-NiSn4 eutectic in CP Sn-0.13Ni (A,B) transverse section;
(C) longitudinal section and (D,E) deep etched longitudinal sections.
Growth directions are indicated in the left bottom corner.
Comparison of ledge morphology on NiSn4 and Ni3Sn4 facets. (A)-(C): ledges growing on the (001) facet of NiSn4 :
(A) near planar at 0.21 K/s, (B) cellular at 2.62 K/s and (C)
dendritic ledge growth at 115 K/s;
(D), (E): ledges growing on (100) facets of Ni3Sn4 : (A) 0.02 K/s (B) 0.5 K/s. Note the changes in scale.
(A) Sn-rich corner of the Sn-Ni equilibrium phase diagram plotted using
data from ref [18],
showing the heat treatment temperatures and compositions used; (B)-(E):
optical micrographs of Sn-0.37Ni
before (B)-(D) and after (C)-(E) 5 h treatment at 220 °C;
(F): settled layer of Ni3Sn4 in quenched liquid in Sn-0.37Ni held at 237 °C for 18 h.
Influence of cooling rate on primary intermetallic growth morphology. NiSn4 (A, B) and Ni3Sn4 (C,D). Note the changes in scale.
Belaykov
0.01Au、16原子%P
253℃ピーク
El−Daly
*Sn−Co−Ni系
台湾精華大のグループがSn−Co−Ni系の研究を行っている。
250℃等温断面
(5−3−5) Sn−Pd
Sn−Pd 元智大
250℃での反応、電解Ni
Pd濃度増により(Pd,Ni)Sn4のNi3Sn4への再堆積が見られる。
Pd≧0.2で(Pd,Ni)Sn4連続層化し(Pd,Ni)Sn4/Ni3Sn4の2層。
Ho 元智大
Sn−xPd、(x=0.05−1.0wt%)とNi
Sn−0.05Pd Sn−0.2Pd
低Pd(0.05wt%)ではNi3Sn4だけ、高Pd(0.2wt%以上)では(Pd,Ni)Sn4−Ni3Sn4の2層で
不連続な(Pd,Ni)Sn4がNi3Sn4の上の散在。時間とともに(Pd,Ni)Sn4は溶融はんだに散らばっていく
(5−3−6) Sn−Co
Wang
BEI micrographs of the Sn-5at%Co alloy equilibrated at (a) 325 °C and (b) 330 °C for one month.
SEI micrographs of the deep-etched Sn/Co couples showing the reaction phase microstructure: (a) CoSn
2 and (b) CoSn
3,
reacted at 340 °C and 320 °C, respectively. (c) X-ray diffractograms
of the corresponding reaction products, CoSn
2 and CoSn
3.
BEI micrographs of the Sn/Co interfacial reactions annealed for 2 h at (a) 320 °C, (b) 340 °C and (c) 327 °C.
BEI micrographs of the Sn/Co interfacial reactions at 250 °C for various durations. (a) 30 min and (b) 1 h.
BEI micrographs of the Sn-Co alloy equilibrated
Chen
CoのSnへの溶解量は240℃で0.04wt%。
Sn−Co/Niの250℃での反応。
0.01CoではNi3Sn4だけが界面に形成、0.01wt%以上で連続Ni3Sn4と不連続(Ni,Co)Sn4が生成。
(a)Sn−0.4wt%、(b)拡大図 暗い相はCoSn3、(c)Sn−0.3wt%、(d)Sn−0.2wt%
(e)Sn−0.1wt%、(f)Sn−0.08wt%、(g)Sn−0.06wt%、すべて、250℃、30日