(9−3−3) INEMI(2012)の低AgSAC評価結果

Part 1 Benedetto 2012  参考 参考

 iNEMIのプロジェクトではほとんどBGAの組成を変え、はんだペーストはSAC305と思われる。





 低Ag合金の熱疲労性能の比較(SAC305、SnPbとの)


Part 2 Parker(2012) 熱疲労 一般的2条件 Ag量効果




 はんだペースト:SAC305、SnPbボールはSnPbペースト。




はんだ接合微細構造(BSE像)







 BGAパッケージパッド:電解Ni/Au、PCBパッド:OSP
 PbフリーはペーストSAC305、リフローピーク245℃、SnPbはペーストSnPb、リフローピーク215℃





Part 3 Sweatman 低Agの熱疲労 微量添加物効果





















PART W(2012) エージング効果
 BGAはSAC105とSAC305、はんだペーストはSAC305、
 BGAパッド:電解Ni/Au、PCB:高温OSP
 熱サイクルへの等温前処理の影響


 BGAが小さいとSn粒径が小さい。


 SAC305が良い、小さいBGAが良い。

 破壊はパッケージ側相互接合部



 IMC粗化とSn再結晶



 エージングの影響少ない。
 ΔTと極温度の影響が大。
 小さいほうが良い。


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