(9−3−3) INEMI(2012)の低AgSAC評価結果
Part 1 Benedetto 2012
参考
参考
iNEMIのプロジェクトではほとんどBGAの組成を変え、はんだペーストはSAC305と思われる。
低Ag合金の熱疲労性能の比較(SAC305、SnPbとの)
Part 2 Parker(2012)
熱疲労 一般的2条件 Ag量効果
はんだペースト:SAC305、SnPbボールはSnPbペースト。
はんだ接合微細構造(BSE像)
BGAパッケージパッド:電解Ni/Au、PCBパッド:OSP
PbフリーはペーストSAC305、リフローピーク245℃、SnPbはペーストSnPb、リフローピーク215℃
Part 3 Sweatman
低Agの熱疲労 微量添加物効果
PART W(2012)
エージング効果
BGAはSAC105とSAC305、はんだペーストはSAC305、
BGAパッド:電解Ni/Au、PCB:高温OSP
熱サイクルへの等温前処理の影響
BGAが小さいとSn粒径が小さい。
SAC305が良い、小さいBGAが良い。
破壊はパッケージ側相互接合部
IMC粗化とSn再結晶
エージングの影響少ない。
ΔTと極温度の影響が大。
小さいほうが良い。
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